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    JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射電子顯微鏡

    更新時間：2019-08-16

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    瀏覽量：1703

    JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射電子顯微鏡標配了冷場發射電子槍和全新的高階球差校正器。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實現原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了自動像差校正系統，采用像差校正算法，可以自動進行快速準確的像差校正。由此實現了高通量的原子級分辨率成像。
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